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電化學(xué)顯微鏡特點及應(yīng)用分析

更新時間:2016-03-15瀏覽:2175次


    電化學(xué)顯微鏡為表面科學(xué)測量提供了一個新的途徑,開爾文探針是一種無接觸,無破壞性的儀器,可以用于測量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的,或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的,通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價值的儀器,它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實。 
 

電化學(xué)顯微鏡主要特點:

    SECM是一個精密的掃描微電極系統(tǒng),具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補(bǔ)性,EC-STM和EC-AFM是對溶液中樣品表面進(jìn)行原子級和納米級成像分析,EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學(xué)過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應(yīng)用情況等特點,適用于分析研究各種實時和原位的電化學(xué)反應(yīng)過程。EC-STM和EC-AFM強(qiáng)調(diào)的是結(jié)果,而SECM注重的是過程和結(jié)果。

電化學(xué)顯微鏡的應(yīng)用:
    SECM有很多潛在的應(yīng)用,目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應(yīng)過程基礎(chǔ)研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應(yīng)特性以及微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)等領(lǐng)域。
 

  • 不銹鋼和鋁等材料的點蝕檢測、成長過程在線監(jiān)測等;
  • 有機(jī)和金屬涂層缺陷和完整性研究;
  • 金屬/有機(jī)涂層界面的腐蝕的機(jī)制與檢測;
  • 有機(jī)涂層的剝離和脫落機(jī)制;
  • 鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區(qū)的電位分布;
  • 干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區(qū)和陽極區(qū)的分布行為;
  • 薄液層下氧還原反應(yīng)和金屬的腐蝕過程的特征;
  • 模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線監(jiān)測;
  • 鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性;
  • 鋁合金的絲狀腐蝕(filiform corrosion);
  • 硅烷L-B膜修飾金屬表面的結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定性;
  • 鋅-鐵偶合金屬界面區(qū)的電位分布特征;
  • 磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測;
  • 檢測微小金屬表面的應(yīng)力分布和應(yīng)力腐蝕開裂;
  • 檢測金屬和半導(dǎo)體材料微小區(qū)域的表面清潔度,缺陷,損傷和均勻程度;
  • 研究和評價氣相緩蝕劑性能;
  • 電化學(xué)傳感器;

 

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